Microscopio de forza atómica: Diferenzas entre revisións
Contido eliminado Contido engadido
m →Ligazóns externas: Arranxos varios |
Sen resumo de edición |
||
Liña 74:
<math>F_{adh}=4 \pi R \gamma_L \cos \theta</math>
onde <math>\gamma_L</math> é a tensión superficial da auga, <math>\theta</math> é o ángulo do [[menisco (líquidos)|menisco]] entre punta e mostra, e R fai referencia ao raio da punta e da mostra.
En condicións normais, a forza de adhesión é duns 7 nN. A forza de adhesión é un dos maiores inconvenientes do modo contacto en aire. No [[modelo de Hertz]] asúmese que a superficie é suave e continua, que a área de contacto é pequena, e que non existen forzas de fricción nin adhesión. Porén, a forza de adhesión é moi importante a escala nanométrica, e afecta especialmente á resolución lateral. Para superar este inconveniente, utilízase o '''Jumping mode''' (modo salto), un modo de contacto no que se evitan as forzas laterais. O AFM en líquido supera tamén este problema, porque en líquido non existen forzas de adhesión.
| |||