Revisión como estaba o 31 de maio de 2015 ás 19:59 editar Miguelferig (conversa \| contribucións) 241.924 edicións Sen resumo de edición ← Edición máis vella		Revisión como estaba o 1 de xuño de 2015 ás 07:05 editar desfacer Miguelferig (conversa \| contribucións) 241.924 edicións →‎Punta Edición máis nova →
Liña 43: === Punta === [[Ficheiro:AFM (used) cantilever in Scanning Electron Microscope, magnification 3000x.GIF\|miniatura\|esquerda\|Ampliación a 3000x da punta dunha panca usada de AFM (largura da imaxe 30 microns).]] [[Ficheiro:AFM (used) cantilever in Scanning Electron Microscope, magnification 1000x.JPG\|miniatura\|dereita\|Panca de AFN (a largura da imaxe é 100 microns).]] Un dos aspectos máis importantes na resolución das imaxes obtidas por AFM é a agudeza da punta. As primeiras utilizadas polos precursores do AFM fabricáronse pegando o diamante sobre cachos de papel de aluminio. As mellores puntas con raio de curvatura encóntranse arredor dos 5nm.

Microscopio de forza atómica: Diferenzas entre revisións