Microscopio de forza atómica: Diferenzas entre revisións
Contido eliminado Contido engadido
Sen resumo de edición |
Sen resumo de edición |
||
Liña 2:
[[Ficheiro:Microscopio de fuerza atomica esquema v2 gl.svg|miniatura|250px|Diagrama dun microscopio de forza atómica.]]
[[Ficheiro:Atomic force microscope by Zureks.jpg|miniatura|dereita|Microscopio de forza atómica á esquerda, e computadores que o controlan á dereita.]]
[[Ficheiro:AFMimageRoughGlass20x20.JPG|miniatura|dereita|Imaxe de AFM dun escaneado da superficie dun vidro. Aínda que os vidros parecen lisos, a escala micro e nanométrica presentan toda clase de rugosidades.]]
O '''microscopio de forza atómica''' ('''AFM''', nas súas siglas en inglés, de '''''A'''tomic '''F'''orce '''M'''icroscope'') é un instrumento mecano-óptico con capacidade para detectar forzas da orde dos [[newton (unidade)|nanonewtons]]. Ao escanear unha mostra, este microscopio pode rexistrar continuamente a súa [[topografía]] por medio dunha sonda de punta afiada de forma piramidal ou cónica. A sonda vai acoplada a unha panca microscópica moi flexible de só uns 200 [[Micrómetro|µm]]. O microscopio de forza atómica foi esencial para o desenvolvemento da [[nanotecnoloxía]], para a caracterización e visualización de mostras a dimensións [[nanómetro|nanométricas]] (10<sup>-9</sup> m = 1 nm). Ten unha resolución de ata fraccións de nanómetro, o que é máis de 1000 veces mellor que o límite de difracción óptico.
| |||