Diferenzas entre revisións de «Microscopio de forza atómica»

sen resumo de edición
[[Ficheiro:Microscopio de fuerza atomica esquema v2 gl.svg|miniatura|250px|Diagrama dun microscopio de forza atómica.]]
[[Ficheiro:Atomic force microscope by Zureks.jpg|miniatura|dereita|Microscopio de forza atómica á esquerda, e computadores que o controlan á dereita.]]
O '''microscopio de forza atómica''' ('''AFM''', nas súas siglas en inglés, de '''''A'''tomic '''F'''orce '''M'''icroscope'') é un instrumento mecano-óptico con capacidade para detectar forzas da orde dos [[newton (unidade)|nanonewtons]]. Ao escanear unha mostra, este microscopio pode rexistrar continuamente a súa [[topografía]] por medio dunha sonda de punta afiada de forma piramidal ou cónica. A sonda vai acoplada a unha panca microscópica moi flexible de só uns 200 [[Micrómetro|µm]]. O microscopio de forza atómica foi esencial para o desenvolvemento da [[nanotecnoloxía]], para a caracterización e visualización de mostras a dimensións [[nanómetro|nanométricas]] (10<sup>-9</sup> m = 1 nm). Ten unha resolución de ata fraccións de nanómetro, o que é máis de 1000 veces mellor que o límite de difracción óptico.
 
O AFM é un tipo de microscopía de varrido por sondaxe (SPM: ''Scanning probing microscopy''), que inclúe tamén ao STM ([[microscopio de efecto túnel]]). O STM permite visualizar rexións de alta ou baixa densidade electrónica superficial, e de aí inferir a posición de átomos individuais ou moléculas na superficie dunha rede.<ref>http://www.icmm.csic.es/fis/espa/afm.html</ref> A microscopia de varrido por sondaxe utilízase en áreas da ciencia que van desde a bioloxía ata a física do estado sólido.
194.390

edicións