Microscopio de forza atómica: Diferenzas entre revisións
Contido eliminado Contido engadido
Liña 43:
=== Punta ===
[[Ficheiro:AFM (used) cantilever in Scanning Electron Microscope, magnification 3000x.GIF|miniatura|esquerda|Ampliación a 3000x dunha panca usada de AFM (largura da imaxe 30 microns).]]
[[Ficheiro:AFM (used) cantilever in Scanning Electron Microscope, magnification 1000x.JPG|miniatura|dereita|Panca de AFN
Un dos aspectos máis importantes na resolución das imaxes obtidas por AFM é a agudeza da punta. As primeiras utilizadas polos precursores do AFM fabricáronse pegando o diamante sobre cachos de papel de aluminio. As mellores puntas con raio de curvatura encóntranse arredor dos 5nm.
|