Diferenzas entre revisións de «Microscopio de forza atómica»

=== Punta ===
[[Ficheiro:AFM (used) cantilever in Scanning Electron Microscope, magnification 3000x.GIF|miniatura|esquerda|Ampliación a 3000x dunha panca usada de AFM.]]
UnosUn de losdos aspectos másmáis importantes en lana resolución de lasdas imágenesimaxes obtenidasobtidas por AFM esé laa agudeza de lada punta. LasAs primerasprimeiras utilizadas por lospolos precursores deldo AFM consistieronfabricáronse enpegando pegar elo diamante sobre pedazoscachos de papel de aluminio. LasAs mejoresmellores puntas con radioraio de curvatura seencóntranse encuentran alrededor dearredor losdos 5nm.
 
Existen tres tipos de influenciasfactores que inflúen para formar lasas imágenesimaxes:
* Alargamento.
* Ensanchamiento
* Compresión .
* '''InteraccionesInteraccións punta-muestramostra''': EnCando nonon hai contacto, [[fuerzaforza electrostática|fuerzasforzas electrostáticas]] ye [[fuerzaforza magnética|magnéticas]]; encando hai casicase contacto, [[interacción de van der Waals|fuerzasforzas de van der Waals]]; en contacto, [[capilaridadcapilaridade]] ye fuerzasforzas de contacto.
* Aspecto deldo radioraio.
 
== Precisión ==
194.485

edicións