Diferenzas entre revisións de «Microscopio de forza atómica»

 
[[Gerd Binnig]] e [[Heinrich Rohrer]] foron galardoados co [[Premio Nobel de Física]] de 1986 polo seu traballo en microscopia de varrido de túnel. Binnig e Rohrer foron recoñecidos polo desenvolvemento da poderosa técnica de microscopia que pode formar unha imaxe de cada un dos átomos sobre unha superficie de metal ou de semicondutores por medio do escaneo realizado pola punta dunha agulla sobre a superficie a unha altitude de só uns poucos diámetros atómicos. Compartiron o premio co científico alemán [[Ernst Ruska]], o deseñador do primeiro [[microscopio electrónico]].<ref>[http://inventors.about.com/library/inventors/blstm.htm]</ref>
 
== Comparación del AFM con otros microscopios ==
 
;Microscopio óptico
 
El [[microscopio óptico]] es una herramienta muy útil para obtener imágenes de muestras orgánicas e inorgánicas, pero está limitado para una resolución de 1mm a 1 micra.<ref>http://www.tecnicaenlaboratorios.com/Agilent/modos_de_imagen.htm</ref>
 
;Microscopio electrónico
El [[microscopio electrónico]] tiene una resolución entre 1mm y 1nm. Es, por lo tanto, idóneo para la determinación de estructuras a nivel molecular y atómico. La resolución no está limitada por la [[difracción]], pero sí por las [[lente]]s. El microscopio de campo cercano tiene una resolución todavía mayor: entre 1µm y 1[[Ångström|Å]].<ref>http://www.tecnicaenlaboratorios.com/Agilent/que_es_afm.htm</ref>
 
;TEM
El [[Microscopio electrónico de transmisión]], tiene las siguientes características que lo hacen muy útil:
* Resolución atómica.
* Puede determinarse estructuras en 2 dimensiones.
* Interacción electrones a electrones.
 
;SEM
El [[Microscopio electrónico de barrido]] tiene las siguientes características:
* Resolución atómica.
* Requiere vacío.
* Debe cubrirse a menudo el espécimen.
* Permite características superficiales.
 
;STM
El [[microscopio de efecto túnel]] (STM) es un instrumento que permite visualizar regiones de alta o baja densidad electrónica superficial, y de ahí inferir la posición de átomos individuales o moléculas en la superficie de una red. La ''"observación"'' atómica se ha vuelto una tarea común en muchos laboratorios debido al bajo costo de este tipo de microscopía en comparación con la microscopía electrónica.<ref>http://www.icmm.csic.es/fis/espa/afm.html</ref>
 
Las técnicas de microscopía de barrido por sondeo (SPM: Scanning probing microscopy) que incluyen al STM y al AFM se utilizan en áreas de la ciencia que van desde la biología hasta la física del estado sólido.
 
 
== Principales restricciones y observaciones en su uso ==
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